正常的太陽(yáng)能電池組件的I-V曲線平滑，所測(cè)試的EL圖片亮度一致、無(wú)陰影（測(cè)試組件為低效率的組件因此功率偏低，僅做參考）：

在實(shí)際生產(chǎn)中出現(xiàn)一些組件I-V曲線彎曲，對(duì)于這些曲線不良的組件，經(jīng)EL測(cè)試后，發(fā)現(xiàn)電池片存在不良的現(xiàn)象，具體為：

原因：電池片中的有害雜質(zhì)及缺陷造成。

影響：組件整體電壓減小，I-V曲線表現(xiàn)在下降處有拱起。

系統(tǒng)影響：組件本身的漏電流過(guò)大，可能造成逆變器漏電流過(guò)大停機(jī)，或者并網(wǎng)箱漏電保護(hù)器保護(hù)跳閘。

分析：電池片來(lái)料隱裂或人為因素（搬運(yùn)、運(yùn)輸、安裝、運(yùn)維等）造成電池片破裂。

影響：該片電池片電流減小，I-V曲線電流有臺(tái)階。

系統(tǒng)影響：組件本身的碎片在系統(tǒng)運(yùn)行過(guò)程做造成隱裂部分局部溫度過(guò)高，產(chǎn)生熱斑現(xiàn)象，加快材料的老化、組件功率衰減快等，嚴(yán)重情況可造成材料著火。

分析：電池片自身問(wèn)題，效率比其它電池片偏低。

影響：該片電流小， I-V曲線電流有臺(tái)階。

系統(tǒng)影響：低效片的摻雜導(dǎo)致整體組件的功率下降，低效片電阻值過(guò)大，電站運(yùn)行過(guò)程中低效片局部發(fā)熱大易產(chǎn)生熱斑現(xiàn)象，進(jìn)而導(dǎo)致材料老化、組件功率衰減快等，嚴(yán)重情況造成材料著火。

原因：部分電池片比其它電池片效率高。

影響：I-V曲線有起伏，對(duì)組件質(zhì)量影響不大。

系統(tǒng)影響：電池片功率混檔，導(dǎo)致組件大面積的電阻不一致，造成電站運(yùn)行過(guò)程中大面積發(fā)熱，產(chǎn)生熱斑現(xiàn)象，情況與低效片、碎片類(lèi)似。

原因：電池片本身問(wèn)題。

影響：電流電壓減小，整體功率降低。

系統(tǒng)影響：電池片缺陷 ，導(dǎo)致組件運(yùn)行過(guò)程衰減加速或者阻值過(guò)大導(dǎo)致熱斑產(chǎn)生，整體影響組件的使用壽命。

總結(jié)：EL測(cè)試一般都是組件廠進(jìn)行各方面控制，確保組件廠出貨的組件EL測(cè)試沒(méi)問(wèn)題，但系統(tǒng)安裝過(guò)程也會(huì)造成EL隱裂二次產(chǎn)生，如果有能力的企業(yè)或者安裝上還是要進(jìn)行一定比例的EL測(cè)試。

注：現(xiàn)在組件的渠道很多，從不同渠道拿到的組件廠的產(chǎn)品（畢竟不論大小組件工廠都是有降級(jí)品外漏的）參差不齊，也建議有能力的企業(yè)進(jìn)行到貨和安裝的EL檢查。